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高頻探針與普通探針的區別

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高頻探針普通探針主要在應用領域、結構材料以及工作頻率等方面有所區別。具體分析如下:

1. 應用領域
- 高頻探針:特別適用于射頻產品生命周期的每個階段,如技術開發、模型參數提取、設計驗證及調試,直至小規模生產測試和最終的生產測試。
- 普通探針:廣泛應用于芯片設計驗證、晶圓測試和半導體成品測試,連接芯片或晶圓與測試設備,進行信號傳輸,對半導體產品的質量控制具有重要意義。

2. 結構材料
- 高頻探針:通常包括測試儀器接口、微同軸電纜轉接、共面接口到DUT部分即針尖等復雜結構,使用高可靠性材料保證特征阻抗不退化。
- 普通探針:由針頭、針尾、彈簧、外管組成,內部基本都采用精密的彈簧結構,表面通常鍍金處理以增強性能。

3. 工作頻率
- 高頻探針:設計可支持高達110 GHz的頻率,具有特征阻抗,通常為50歐姆,并存在針對高頻測試需求的高阻抗探針、差分探針及雙信號探針。
- 普通探針:用于對信號衰減不敏感的測試環境,通常是暴露在空氣中的合金探針,周圍涂有絕緣層防止短路。

4. 電氣性能
- 高頻探針:要求具備極高的頻率匹配和特征阻抗以保證電磁能量的高效傳輸,對測試誤差的要求非常嚴格。
- 普通探針:雖然也需要良好的電氣性能,但相較之下,其對頻率匹配和特征阻抗的要求不如高頻探針嚴格。

5. 制造技術
- 高頻探針:需要使用復雜的測試設備,如矢量網絡分析儀(VNA)、晶片探測系統、半剛性或柔性同軸射頻線纜以及校準基板。
- 普通探針:是一種高端精密電子元器件,具有較高的制造技術含量。

6. 測試精度
- 高頻探針:能夠在晶片層次上測量射頻組件的真正特性,有助于縮短研究和開發時間并降低開發新產品的成本。
- 普通探針:影響穩定性、細微性、信號傳導精度等,從而影響探針的測試精度。

為了確保探針的正確使用和提高測試效率,可以考慮以下幾點建議:

- 在選擇探針時,應首先明確測試目標和頻率需求。
- 高頻探針由于其復雜的結構和高精度要求,可能需要專業的操作培訓。
- 考慮到成本效益比,對于非高頻測試盡可能選擇普通探針以節約成本。
- 定期維護和檢查探針,尤其是高頻探針,以確保其性能不受影響。
- 跟蹤最新的探針技術和市場動態,以便及時更新測試工具,保持測試精度和效率。


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華榮華介紹BGA雙頭探針的結構

華榮華介紹BGA雙頭探針的結構

BGA的全稱是Ball Grid Array,是一種大型組件的引腳封裝方式,與 QFP的四面引腳相似,都是利用SMT錫膏焊接與電路板相連。其不同處是羅列在四周的"一度空間"單排式引腳,如鷗翼形伸腳、平伸腳、或縮回腹底的J型腳等;改變成腹底全面數組或局部數組,采行二度空間面積性的焊錫球腳分布,做為芯片封裝體對電路板的焊接互連工具。它具有封裝面積少,功能加大,引腳數目增多,可靠性高,電性能好,整體成本低等特點。

2023-06-19

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